ELECO`2009 6TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON ELECTRICAL AND ELECTRONICS ENGINEERING PAPERS
Four-point Probe and FTIR Characterization of Bilayers Films based on Silicon Annealed at 850°C
|
Bildiri Türü: |
![](https://www.emo.org.tr/resimler/16x12_bildiri.gif)
|
Anahtar Sözcükler: |
|
![](https://www.emo.org.tr/resimler/baslik_01.png) |
Bildiri Dosyası |
|
![](https://www.emo.org.tr/resimler/icon_pdf.gif) |
(190 KB) |
BİLDİRİ LİSTESİNE GERİ DÖN
|